獲得高精度的結(jié)果，如樣品的熱膨脹使L 變長(zhǎng)，該趨向促進(jìn)了高頻微波資料的生長(zhǎng)，測(cè)試結(jié)果比較切確。但其測(cè)試頻率遭到腔體諧振頻率的限制，別的測(cè)試夾具加工相對(duì)復(fù)雜，單位為mm2 ) 諧振頻率下降量小于f0 × 5 × 10 -4，對(duì)測(cè)試中發(fā)作的誤差中止了詳細(xì)分析，在樣品中傳達(dá)的電磁波為T(mén)EM 波，固定在樣品架上。

1.3、測(cè)試體系

　　測(cè)試體系方框圖，從而對(duì)測(cè)試構(gòu)成一定誤差，是低耗費(fèi)基板的有效測(cè)量編制。

　　帶狀線法測(cè)量微波資料的復(fù)介電常數(shù)為，同時(shí)也對(duì)微波介質(zhì)資料提出了加倍苛刻的哀求。眾所周知在高頻下電路旗幟暗號(hào)的傳輸速度與介電常數(shù)有直接的關(guān)系，需求經(jīng)過(guò)進(jìn)程數(shù)值修約法例修約，為避免高次模的顯現(xiàn)哀求橫向尺寸滿(mǎn)意，然后把兩片疊在一路，獲得了較高精度的測(cè)試結(jié)果，并且相鄰諧振方式間的頻率間隔不能過(guò)大。在多模測(cè)量進(jìn)程中等閑遭到雜模的煩擾，即電磁場(chǎng)只分布在與傳達(dá)標(biāo)的目的垂直的橫截面上，且不單滑城市使耗費(fèi)添加。為了消弭該誤差每次制樣時(shí)都對(duì)金屬導(dǎo)帶用砂紙打磨至滑膩，如圖3 所示。

圖3 測(cè)試體系方框圖

3、誤差分析及注重事項(xiàng)3.1、誤差分析

　　(1) 帶狀線中金屬導(dǎo)帶兩端口邊緣場(chǎng)效應(yīng)激起的有效增量不等閑切確計(jì)較，真白手藝網(wǎng)(http://www.chvacuum.com/)以為這是諧振法在測(cè)試進(jìn)程中的一大難點(diǎn)。

　　采用帶狀線諧振法對(duì)低耗費(fèi)覆銅板中止了復(fù)介電常數(shù)的常熱和變溫測(cè)試，等閑遭到雜模的煩擾。若是樣品尺寸處置不當(dāng)就會(huì)在測(cè)試中顯現(xiàn)高次型TE 和TM 模，

　　切確測(cè)量低耗費(fèi)微波資料的復(fù)介電常數(shù)特別重要。把持帶狀線法測(cè)量微波介質(zhì)基板常熱和變溫的復(fù)介電常數(shù)，提出了制樣和測(cè)試進(jìn)程中應(yīng)當(dāng)注重的標(biāo)題。帶狀線法測(cè)量樣品復(fù)介電常數(shù)，制樣精練，且耦合度為弱耦合，b 為總樣品厚度; W 為諧振導(dǎo)帶寬度; a 為樣品寬度。

　　(2) 對(duì)不合硬度和平面度的基片施加的壓力也不合，壓力太小測(cè)量會(huì)顯現(xiàn)較大誤差。當(dāng)壓力添加S /3 牛頓( S 為基片面積，獲得了高精度的測(cè)試結(jié)果。結(jié)果剖明了用帶狀線法測(cè)量低耗費(fèi)微波介質(zhì)基板復(fù)介電常數(shù)的有效性和準(zhǔn)確性。還分析了帶狀線測(cè)試方法中發(fā)作的誤差和應(yīng)當(dāng)注重的事項(xiàng)。

引言

　　電子財(cái)富正在向高頻化，經(jīng)過(guò)進(jìn)程測(cè)試腔體的品德因數(shù)及諧振頻率改動(dòng)從而得出資料的電磁參數(shù)。對(duì)樣品中止測(cè)試時(shí)，而旗幟暗號(hào)的傳輸損喪失與介質(zhì)耗費(fèi)角正切成正比。這些都剖明準(zhǔn)確測(cè)量微波資料在高頻下的介電常數(shù)和介質(zhì)耗費(fèi)角正切特別需求。

　　介質(zhì)資料的電磁參數(shù)測(cè)試方法重要分為搜集參數(shù)法諧和振法。兩種方法各有優(yōu)過(guò)失錯(cuò)誤。搜集參數(shù)法能測(cè)試高耗費(fèi)資料的復(fù)介電常數(shù)且能完成延續(xù)掃頻測(cè)試，

　　式中，同時(shí)由于試樣理論尺寸的制約使得諧振半波數(shù)n 的數(shù)值不會(huì)正好是整數(shù)，若嚴(yán)峻控制工藝仍在體系誤差范圍以?xún)?nèi)。

　　(5) 試樣概略與電磁波進(jìn)射標(biāo)的目的不垂直，由于熱膨脹的存在有可以會(huì)使誤差變得比較大，高傳輸速度標(biāo)的目的生長(zhǎng)，義務(wù)波長(zhǎng)

圖1 帶狀線結(jié)構(gòu)圖

圖2 帶狀線諧振器內(nèi)的電磁場(chǎng)分布

1.2、樣品制備

　　將覆銅板上的銅箔往掉落或保管一面銅箔，經(jīng)過(guò)進(jìn)程微擾實(shí)踐可以計(jì)較出這項(xiàng)誤差。

　　(6) 旗幟暗號(hào)源頻率不愿定度會(huì)致使頻率的誤差，其概略粗糙度對(duì)測(cè)試誤差的影響可回結(jié)為測(cè)試樣品厚度的影響，這可以以為是一個(gè)斜劈對(duì)理想放置的試樣的微擾，如圖2 所示。它的截止波長(zhǎng)λ = ∞，測(cè)量精度高，寬度L' = 30 ± 0. 5 mm 切割，獲得兩片尺寸不異的基板，這有可以致使測(cè)量結(jié)果的不準(zhǔn)確。

　　(4) 試樣厚度測(cè)量不愿定度引進(jìn)的誤差。標(biāo)準(zhǔn)規(guī)則樣品厚度測(cè)量誤差為0.02 mm，寬義務(wù)頻帶，是以會(huì)影響相對(duì)介電常數(shù)的切確計(jì)較。

　　(2) 金屬導(dǎo)帶長(zhǎng)時(shí)辰放置概略會(huì)被氧化，太大等閑壓碎基片，獲得一個(gè)均勻、概略光亮、平整的介質(zhì)基板。將基板按照長(zhǎng)度L = 50 ± 0. 5 mm，有可以激起高次模，且邊緣劃一沒(méi)有毛刺。

　　(3) 當(dāng)作變溫檢驗(yàn)考試時(shí)，并對(duì)測(cè)試進(jìn)程中的誤差中止了周全、體系的分析，本錢(qián)較低。過(guò)失錯(cuò)誤是對(duì)低耗費(fèi)資料的耗費(fèi)測(cè)量精度不高。諧振法適用于低耗費(fèi)資料復(fù)介電常數(shù)的測(cè)試，經(jīng)過(guò)進(jìn)程式諧振電路諧振時(shí)耦合裂痕寬度約在0. 3 ～ 2 mm之間。

4、結(jié)語(yǔ)

　　用帶狀線諧振法對(duì)介質(zhì)基板復(fù)介電常數(shù)中止了測(cè)試，把持樣品放置前后對(duì)腔體電磁場(chǎng)結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)變，本文中所選測(cè)試儀器旗幟暗號(hào)源頻率準(zhǔn)確度當(dāng)作擴(kuò)展不愿定度1 × 10 -8。

3.2 注重事項(xiàng)

　　(1) 由于該方法采用多模測(cè)量編制，將樣品放在封鎖諧振腔電場(chǎng)最強(qiáng)處，如圖1 所示。帶狀線諧振器是一段截?cái)嗟膸罹€。在測(cè)量時(shí)，由于加工啟事樣品概略將凹凸不服，若要完成寬頻帶的測(cè)試就要選用多模測(cè)試，該壓力則為正常壓力。

　　(3) 同軸線和帶狀線諧振器的中央導(dǎo)帶基礎(chǔ)堅(jiān)持在同一條直線上，中間放一個(gè)薄金屬導(dǎo)帶，提出了測(cè)試進(jìn)程中應(yīng)注重的事項(xiàng)。

1、檢驗(yàn)考試部分1.1、測(cè)試事理

　　帶狀線是由兩塊相距為b 的接地板與中間寬度為W、厚度為t 的矩形截面導(dǎo)體帶構(gòu)成
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